"МЕТОДЫ И СРЕДСТВА МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАНОТЕХНОЛОГИЙ И АНАЛИТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ"

Новая программа обучения разработана в связи с необходимостью переподготовки и повышения квалификации специалистов раз в 5 лет ( Приказ Минобразования РФ от 18.06.1997 г . № 1221). Программа рассчитана на 108 часов занятий и состоит из лекционной части и ' лабораторных работ по овладению новейшими аттестованными методиками . Лабораторные работы проводятся на экспериментальной базе института ФГУП ВНИИОФИ при научно - методической и технической поддержке специалистов , работающих в области наноиндустрии .

Тематический план курса : •

1. Методическая составляющая наноиндустрии - обеспечение единства измерений ,
стандартизация , оценка и безопасности продукции наноиндустрии .

•  Особенности развития нанотехнологий в России и за рубежом . Современное состояние разработок , перспективы развития .

•  Стратегия и концепция развития метрологии в России и ее связь с нанотехнологиями . Обзор программных и нормативных документов .

•  Новая редакция закона "О единстве измерений" и ее влияние на развитие нанотехнологий .

•  Методическая составляющая в развитие и взаимодействии предприятий Национальной нанотехнологической сети . Система сертификации продукции наноиндустрии .

2. Методы и средства измерений , применяемые в нанотехнологиях . Особенности обеспечения
единства измерений в нанометровом диапазоне .

•  Нанотехнологий - отличительные особенности направления . Методы и средства измерений , применяемые в нанометровом диапазоне .

•  Особенности измерения физических величин в нанометровом диапазоне . Переопределение физических величин с помощью фундаментальных констант .

•  Виды и технологии получения наноматериалов , измеряемые параметры и стандартные образцы .

•  Принцип действия , устройство и основные характеристики современных электронных и зондовых микроскопов . Методы калибровки .

•  Оптико - спектральные и аналитические методы измерений свойств наноматериалов : аппаратурная реализация и приложения .

3. Лабораторные работы по изучению современных приборов для измерения размеров , состава
и свойств наноструктур .

•  Ознакомление с приборной и эталонной базой ФГУП ВНИИОФИ в области нанотехнологий и наноматериалов .

•  Исследование наноструктуры поверхности с помощью атомно - силового микроскопа .

•  Исследование параметров наноразмерных объектов с помощью сканирующего электронного микроскопа .

•  Исследование параметров нанопленок с помощью интерференционных приборов .

•  Исследование оптико - спектральных свойств наночастиц с помощью спектрофотометра .

•  Исследование физико - химических свойств наноматериалов с помощью аналитических приборов .

Стоимость обучения -17 500 рублей ( НДС не облагается ).

Стоимость проезда и проживания оплачивается участниками . Оказываем содействие в бронировании гостиницы

по предварительной заявке . Для участия необходимо сделать заявйу по телефонам : (495) 781-45-70, 437-62-

81, 437-62-82, по электронной почте bulygin@vniiofi.ru или с сайта www.alab.ru .

По окончании занятий слушателям выдается Свидетельство государственного образца (108 часов ) о

повышении квалификации по специализации "Современные методы и средства аналитического контроля" ,

счет - фактура , акт выполненных работ .

Лекции и практические занятия проводятся по адресу : г . Москва , ул . Озерная , д .46, ВНИИОФИ , комн .101 А .

Проезд : до станции метро "Юго - Западная" ( последний вагон от центра ), далее автобусами 718, 720, 752, 66 до остановки "14 автопарк" .